規(guī)格型號(hào)：50959219
頻率：3.579545 MHz to 75 MHz
尺寸：11.5 x 4.7 x 4.2 mm
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產(chǎn)品描述：我公司的49/SMD貼片晶振在生產(chǎn)晶片時(shí)，就采用了晶片在球筒倒邊加工時(shí)應(yīng)用到的加工技術(shù)，主要是研究滿足不同曲率半徑晶片設(shè)計(jì)可使用的方法。如：1、是指球面加工曲率半徑的工藝設(shè)計(jì)（ a、球面的余弦磨量； b、球面的均...

Abracon晶振,石英晶振,ABLS晶振,AT49SMD貼片晶振我公司的49/SMD貼片晶振在生產(chǎn)晶片時(shí)，就采用了晶片在球筒倒邊加工時(shí)應(yīng)用到的加工技術(shù)，主要是研究滿足不同曲率半徑晶片設(shè)計(jì)可使用的方法。如：1、是指球面加工曲率半徑的工藝設(shè)計(jì)（ a、球面的余弦磨量； b、球面的均勻磨量；c、球面加工曲率半徑的配合）2、在加工時(shí)球面測量標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)原則（曲率半徑公式的計(jì)算）

高精度的石英晶體諧振器，是需要在生產(chǎn)前期的各道工序就得采用嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)，比如電阻的測量技術(shù)：引進(jìn)一批先進(jìn)的檢測儀器，準(zhǔn)確度達(dá)到±1ppm（國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)）。在測量應(yīng)用上制定一套標(biāo)準(zhǔn)的測量方法保證測量的準(zhǔn)確性、儀器的精度、測試的一致性。如下方面都會(huì)對(duì)測量結(jié)果帶來影響：1、測試針本身連接的可靠性；2、測試針同測試管的連接性；3、測試板同測試針的接觸問題；4、測試座同電纜的連接；5、小負(fù)載的規(guī)格測量的規(guī)定；6、測試板π頭上空測其C0值(保留3位以上小數(shù))；7、測量環(huán)境、操作方法等管制。

歐美晶振由于大多數(shù)Pierce振蕩器的跨導(dǎo)（gm）繼續(xù)向前所未有的低水平下降，所以ABRACON石英晶體不僅被迫尺寸較小，而且還提供非常低的電鍍負(fù)載（CL）和低等效串聯(lián)電阻（ESR）參數(shù)選項(xiàng)。滿足節(jié)能MCU和RF芯片組要求的最低gm_critical要求取決于保持低CL，ESR和C0參數(shù)的保證。這需要在Abracon晶振,石英晶振,ABLS晶振,AT49SMD貼片晶振晶體上采用新的非平凡電鍍?cè)O(shè)計(jì)，同時(shí)降低CL和ESR，并且仍然可以保證低溫度和老化效應(yīng)的規(guī)格。ABRACON新的石英晶體電鍍?cè)O(shè)計(jì)使得下一代Pierce振蕩器能夠在能夠保持振蕩的情況下運(yùn)行在煙霧上。電子行業(yè)有一個(gè)非常一致的趨勢，直接取決于時(shí)間 - 隨著技術(shù)越來越小，功耗降低的需求越來越高。解決石英晶體設(shè)計(jì)要求，取決于行業(yè)需求，已經(jīng)成為至關(guān)重要的。
Abracon的Pierce分析儀系統(tǒng)（PAS）由我們的工程師設(shè)計(jì)，可幫助您為行業(yè)領(lǐng)先的設(shè)計(jì)做出正確的選擇。 PAS測試驗(yàn)證了電路中的進(jìn)口晶振石英晶體性能，同時(shí)測量晶體，晶體振蕩器和印刷電路板寄生效應(yīng)。測試系統(tǒng)中所有變量的帳戶，并使晶體參數(shù)與MCU或RF芯片組中的電路板和振蕩器實(shí)現(xiàn)理想的匹配。這對(duì)于使用下一代需要最佳gm因子的節(jié)能技術(shù)尤其重要。

晶振規(guī)格	單位	ABLS晶振頻率范圍	石英晶振基本條件
額定頻率范圍	f_nom	3.579545~75.000MHZ	標(biāo)準(zhǔn)頻率
儲(chǔ)存溫度	T_stg	-55°C ～ +125°C	裸存
工作溫度	T_use	-0°C ～ +70°C	晶振標(biāo)準(zhǔn)溫度
激勵(lì)功率	DL	200μW Max.	推薦:1μW ～ 100μW
頻率公差	f_— l	±50 × 10^-6 (標(biāo)準(zhǔn)), (±15 × 10^-6 ～ ±50 × 10^-6 可用)	+25°C 對(duì)于超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格說明, 請(qǐng)聯(lián)系我們以便獲取相關(guān)的信息。
頻率溫度特征	f_tem	±30 × 10^-6/-20°C ～ +70°C	超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格請(qǐng)聯(lián)系我們。
負(fù)載電容	CL	7pf ～ ∞	超出標(biāo)準(zhǔn)說明,請(qǐng)聯(lián)系我們。
串聯(lián)電阻（ESR）	R₁	如下表所示	-40°C — +85°C, DL = 100μW
頻率老化	f_age	±5 × 10^-6 / year Max.	+25°C,第一年

熱影響
重復(fù)的溫度巨大變化可能會(huì)降低受損害的Abracon晶振,石英晶振,ABLS晶振,AT49SMD貼片晶振晶體單元的產(chǎn)品特性，并導(dǎo)致塑料封裝里的線路擊穿。必須避免這種情況。
安裝方向
振蕩器的不正確安裝會(huì)導(dǎo)致故障以及崩潰，因此安裝時(shí)，請(qǐng)檢查安裝方向是否正確。
通電
石英晶振不建議從中間電位和/或極快速通電，否則會(huì)導(dǎo)致無法產(chǎn)生振蕩和/或非正常工作。

過去Abracon晶振集團(tuán)已經(jīng)針對(duì)重大污染控制項(xiàng)目建立了一整套記錄程序并且將繼續(xù)識(shí)別解決其自身環(huán)境污染及保持問題,加強(qiáng)責(zé)任感以便進(jìn)行環(huán)境績效的持續(xù)改進(jìn)。
Abracon晶振集團(tuán)將：不論何時(shí)何地盡可能的進(jìn)行源頭污染預(yù)防。Abracon晶振,石英晶振,ABLS晶振,AT49SMD晶振為環(huán)境目標(biāo)指標(biāo)的建立與評(píng)審提供框架。通過充分利用或回收等方法實(shí)現(xiàn)對(duì)自然資源的保持。
Abracon晶振集團(tuán)將確保其產(chǎn)品及相關(guān)設(shè)施滿足甚至超出國家的、州立的以及地方環(huán)保機(jī)構(gòu)的相關(guān)法規(guī)規(guī)定及其他要求,同時(shí)該公司盡可能的參與并協(xié)助政府機(jī)關(guān)和其他官方組織從事的環(huán)保活動(dòng)。在地方對(duì)各項(xiàng)設(shè)施的管理責(zé)任中,確保滿足方針的目標(biāo)指標(biāo),同時(shí)在各種經(jīng)營與生產(chǎn)活動(dòng)中完全遵守并符合現(xiàn)行所有標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的要求。

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